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  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新時間:2024-06-04

    型號:

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    薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環(huán)境使用;可與大行程工件臺配合,實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
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  • 微納結構三維形貌測量儀
    微納結構三維形貌測量儀

    更新時間:2024-06-04

    型號:

    瀏覽量:2335

    微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀,基于白光干涉掃描原理,以光波長作為測量基準,利用納米級高精度掃描系統(tǒng)結合具有自主知識產權的高精度解析算法,實現(xiàn)連續(xù)或臺階突變微納結構表面三維形貌重構,由此獲得待測物體三維形貌、表面紋理、微觀尺寸等各類外觀參數測量結果。
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